OTSUKA大塚电子 光谱干涉晶圆厚度计 多层光学镀膜、半导体介质膜、精密功能薄膜研发生产，对于膜层厚度、折射率、膜层结构表征要求严苛，OTSUKA 大塚电子 FE-5000 光谱椭圆仪、SF-3 系列超高速光谱干涉厚度仪、GS-300 胶片厚度测量仪，构成光学膜层综合检测方案。

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北崎代理！OTSUKA大塚电子 光谱椭圆仪 精密薄膜、半导体涂层、光学基材的厚度测量，需要无损、高精度检测手段，OTSUKA 大塚电子拥有完整薄膜测厚产品线，包含 OPTM-A1/A2/A3 显微光谱薄膜厚度计、FE-300F 薄膜厚度计、SM-100P/SM-100S 智能薄膜测厚仪，覆盖微米、纳米级薄膜厚度检测需求。