OTSUKA大塚电子 超高速光谱干涉厚度仪
多层光学镀膜、半导体介质膜、精密功能薄膜研发生产，对于膜层厚度、折射率、膜层结构表征要求严苛，OTSUKA 大塚电子 FE-5000 光谱椭圆仪、SF-3 系列超高速光谱干涉厚度仪、GS-300 胶片厚度测量仪，构成光学膜层综合检测方案。

大塚电子光谱椭圆仪与 SF 系列干涉厚度仪 光学膜层检测方案

多层光学镀膜、半导体介质膜、精密功能薄膜研发生产，对于膜层厚度、折射率、膜层结构表征要求严苛，OTSUKA 大塚电子 FE-5000 光谱椭圆仪、SF-3 系列超高速光谱干涉厚度仪、GS-300 胶片厚度测量仪，构成光学膜层综合检测方案。

OTSUKA大塚电子  超高速光谱干涉厚度仪

FE-5000 光谱椭圆仪，依托椭偏法原理，不仅测量薄膜厚度，还可以同步获取薄膜折射率、消光系数，适合多层复合膜、半导体氧化膜、光学抗反射膜分析，是光学镀膜、半导体晶圆涂层研发核心设备。SF-3 系列超高速光谱干涉厚度仪分为 SF-3/200、SF-3/300、SF-3/800、SF-3/1300 多款规格，不同型号适配不同厚度区间，检测速度极快，适合产线大批量连续检测，适配光学胶片、硬质涂层、透明基材。GS-300 胶片厚度测量仪，专门针对柔性胶片、高分子薄膜，兼顾大面积样品检测需求。

OTSUKA大塚电子  超高速光谱干涉厚度仪

在光学镀膜工艺迭代过程中，膜层折射率、厚度微小偏差，会直接影响光学器件性能。椭圆仪可以解析多层薄膜结构，辅助研发人员优化镀膜配方；SF 系列干涉测厚设备用于量产线上快速筛查，把控每一卷胶片膜厚稳定性。从实验室新材料开发，到量产产线在线监控，整套设备可以打通研发到质控环节。

北崎常备大塚电子光学检测仪器现货，原厂技术支持，可承接样品预测试，协助客户选择椭偏仪、干涉测厚仪合适型号，解决多层膜检测难点，为光学薄膜、半导体涂层企业提供稳定可靠检测设备。

北崎国际主营全品类日本和欧美工业进口设备，核心代理品牌包含：SEN 日森、CCS 晰写速、日本 MTL、NPM 日脉、SERIC 索莱克、SONIC 索尼克、SANKO 三高、NEWKON 新光、SIBATA 柴田、SUGIYAMA 杉山电机、TORAY 东丽、EBARA 荏原、MATSUO 松尾、NIKKATO 日陶、HEIDON 新东科学、JIKCO 吉高、OTSUKA 大塚电子、ITOH 伊藤、EYE 岩崎、REVOX 莱宝克斯、TOKI 东机产业、HAYASHI 林时计、OHKURA 大仓、ULVAC 爱发科、ANALYZER 第一热研、NFK 南国工业株式会社、kakuhunter 写真化学、WATSON 沃森、RIYYO 理阳、ESSGES 宜格斯、ATAGO 爱拓、PFERD 马圈、TEMTOP 乐控、TSUBAKI 椿本、SAKAGUCHI 坂口电热、MIYUKI 美幸辉、THOMAS 托马斯。全系原厂*、渠道稳定、现货配套、技术售后一站式服务。