北崎 OTSUKA大塚电子 光谱仪薄膜厚度计
精密薄膜、半导体涂层、光学基材的厚度测量，需要无损、高精度检测手段，OTSUKA 大塚电子拥有完整薄膜测厚产品线，包含 OPTM-A1/A2/A3 显微光谱薄膜厚度计、FE-300F 薄膜厚度计、SM-100P/SM-100S 智能薄膜测厚仪，覆盖微米、纳米级薄膜厚度检测需求。

大塚电子 OPTM、FE、SM 系列薄膜厚度计 非接触薄膜测厚方案

精密薄膜、半导体涂层、光学基材的厚度测量，需要无损、高精度检测手段，OTSUKA 大塚电子拥有完整薄膜测厚产品线，包含 OPTM-A1/A2/A3 显微光谱薄膜厚度计、FE-300F 薄膜厚度计、SM-100P/SM-100S 智能薄膜测厚仪，覆盖微米、纳米级薄膜厚度检测需求。

北崎 OTSUKA大塚电子  光谱仪薄膜厚度计

OPTM-A 系列属于显微光谱薄膜厚度计，搭配显微光路，可实现微小区域薄膜厚度测量，适合芯片局部涂层、微小光学元件镀膜，在半导体、微光学元件行业应用广泛。FE-300F 适用于单层多层薄膜测试，操作简单，测试速度快；SM-100P、SM-100S 为智能薄膜测厚仪，S 型号侧重实验室检测，P 型号适配产线快速巡检，适配 PET 薄膜、光学保护膜、功能涂层、光刻胶薄膜。

北崎 OTSUKA大塚电子  光谱仪薄膜厚度计

光谱干涉与光谱反射法作为核心检测原理，全程非接触，不会划伤样品表面，尤其适合软膜、超薄功能膜。很多柔性光学膜生产企业，需要连续监测薄膜厚度均匀性，大塚薄膜测厚设备可以快速扫描多点厚度，输出厚度分布数据，及时调整涂布、镀膜工艺，控制膜厚公差。

北崎现货供应大塚全系列薄膜测厚设备，原厂技术支持，根据样品材质、膜层结构、厚度范围推荐合适机型，配套样品测试评估，协助企业搭建膜厚检测体系。

北崎国际主营全品类日本和欧美工业进口设备，核心代理品牌包含：SEN 日森、CCS 晰写速、日本 MTL、NPM 日脉、SERIC 索莱克、SONIC 索尼克、SANKO 三高、NEWKON 新光、SIBATA 柴田、SUGIYAMA 杉山电机、TORAY 东丽、EBARA 荏原、MATSUO 松尾、NIKKATO 日陶、HEIDON 新东科学、JIKCO 吉高、OTSUKA 大塚电子、ITOH 伊藤、EYE 岩崎、REVOX 莱宝克斯、TOKI 东机产业、HAYASHI 林时计、OHKURA 大仓、ULVAC 爱发科、ANALYZER 第一热研、NFK 南国工业株式会社、kakuhunter 写真化学、WATSON 沃森、RIYYO 理阳、ESSGES 宜格斯、ATAGO 爱拓、PFERD 马圈、TEMTOP 乐控、TSUBAKI 椿本、SAKAGUCHI 坂口电热、MIYUKI 美幸辉、THOMAS 托马斯。全系原厂*、渠道稳定、现货配套、技术售后一站式服务。