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大塚电子 DLS 系列动态散射光度计 纳米颗粒高精度表征
纳米颗粒的粒径表征是精细化工、半导体浆料、纳米陶瓷、医药制剂领域的测试工序,OTSUKA 大塚电子 DLS-8000、DLS-6500 系列动态散射光度计,凭借成熟动态光散射技术,满足从基础研发到高要求精密检测场景。
可试样!OTSUKA大塚电子 纳米粒径分析仪
DLS-8000HL/HH、DLS-8000DL/DH 属于型号,硬件光路信噪比高,HH、DH 型号适配高浓度、高浊度样品,HL/DL 适合低浓度稀溶液。DLS-6500HL/HH、DLS-6500SL 定位中端检测场景,兼顾测试精度与采购成本,SL 型号简化配置,适合大批量样品快速筛查。同系列还有 nanoSAQLA 多样品纳米颗粒直径测量仪,支持多样品连续自动检测,批量测试无需反复换样,大幅提升实验室检测效率,适合第三方检测机构、材料研究院。
可试样!OTSUKA大塚电子 纳米粒径分析仪
动态光散射原理依靠检测布朗运动颗粒散射光信号,换算颗粒粒径。大塚 DLS 系列优化相关运算算法,有效抑制灰尘、微小杂质带来的信号干扰,对于纳米金属颗粒、脂质体、光刻胶浆料、纳米纤维悬浮液都有不错适配性。很多半导体材料企业,需要监控抛光液纳米颗粒粒径稳定性,DLS 设备可以持续监测批次间粒径差异,提前预判产品波动。
北崎现货供应大塚电子 DLS 全系列设备,原厂技术支撑,前期可以结合客户样品体系推荐合适型号,设备落地后提供操作培训,解决测试中样品分散、参数设置难题,助力科研与产线质控。
北崎国际主营全品类日本和欧美工业进口设备,核心代理品牌包含:SEN 日森、CCS 晰写速、日本 MTL、NPM 日脉、SERIC 索莱克、SONIC 索尼克、SANKO 三高、NEWKON 新光、SIBATA 柴田、SUGIYAMA 杉山电机、TORAY 东丽、EBARA 荏原、MATSUO 松尾、NIKKATO 日陶、HEIDON 新东科学、JIKCO 吉高、OTSUKA 大塚电子、ITOH 伊藤、EYE 岩崎、REVOX 莱宝克斯、TOKI 东机产业、HAYASHI 林时计、OHKURA 大仓、ULVAC 爱发科、ANALYZER 第一热研、NFK 南国工业株式会社、kakuhunter 写真化学、WATSON 沃森、RIYYO 理阳、ESSGES 宜格斯、ATAGO 爱拓、PFERD 马圈、TEMTOP 乐控、TSUBAKI 椿本、SAKAGUCHI 坂口电热、MIYUKI 美幸辉、THOMAS 托马斯。全系原厂*、渠道稳定、现货配套、技术售后一站式服务。
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