日本Photonic‑Lattice 高速偏振相机
北崎国际拥有 Photonic‑Lattice 原厂一手货源，可根据客户样品相位差大小、样品尺寸、是否显微观测、是否需要产线在线改造需求，提供完整选型定制方案，适配研发实验室以及工厂量产质检不同场景。

# WPA 系列大相位差二维双折射测量仪，高分子树脂与厚光学件应力检测方案

注塑成型树脂导光板、车载光学构件、厚型光学镜片、高分子薄膜容易产生较高残余应力，相位差最高可达数千纳米，普通低量程应力仪容易出现饱和失真，日本 Photonic‑Lattice WPA 系列采用三波长解析算法，测量相位差范围 0‑3500nm，很好满足高双折射样品全域定量检测，产品矩阵包含 WPA‑300、WPA‑300‑L、WPA‑200、WPA‑200‑L、WPA‑200‑XL、WPA‑micro 显微机型、WPA‑200‑MT 产线集成款、WPA‑200‑NIR 近红外机型，WPA‑KAMAKIRI 薄膜在线检测系统，覆盖实验室离线检测到大卷薄膜产线在线全场景株式会社フ...。

日本Photonic‑Lattice 高速偏振相机

WPA‑200 作为系列基础机型，三波长协同运算，完整还原全域双折射分布；WPA‑300 将偏振图像传感器分辨率提升 5 倍，在保持大相位差量程前提下，捕捉样品内部细微相位差变化，分辨微小应力集中区域；WPA‑300‑L、WPA‑200‑L、WPA‑200‑XL 不断扩大观测视场，适配大尺寸注塑面板、厚板材样品；WPA‑micro 显微版本，搭载显微物镜，支持透射与反射模式，除透明高分子，还可对部分不透明金属样品做反射模式应力观测，解析微区晶体取向分布；WPA‑200‑MT 光源单元可分离，方便集成到自动化测试工位，实现自动化上下料配套；WPA‑200‑NIR 近红外机型，使用近红外三波长，面向车载 LiDAR 黑色树脂盖板这类可见光不透的部件；WPA‑KAMAKIRI 为在线连续薄膜检测设备，可对走带状态薄膜做整面实时双折射扫描，出现光学不均实时输出报警信号，杜绝不良卷材流向下游工序株式会社フ...。

日本Photonic‑Lattice 高速偏振相机

WPA 系列主要应用于注塑光学件行业，评估注塑、脱模带来的内部残余应力，优化注塑温度、保压、冷却工艺；显示行业导光板、光学薄膜应力分布检测；汽车光学部件、厚光学镜片成型质量评估；高分子材料科研，研究拉伸、成型过程分子取向带来的双折射变化。设备输出相位差、光轴方向、等效应力数据，生成可视化应力云图，研发人员可以直观定位熔接线、浇口位置应力集中区域，减少产品翘曲、光学成像缺陷。北崎国际拥有 Photonic‑Lattice 原厂一手货源，可根据客户样品相位差大小、样品尺寸、是否显微观测、是否需要产线在线改造需求，提供完整选型定制方案，适配研发实验室以及工厂量产质检不同场景。