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# CCS 晰写速低角度 LA 系列光源 高反光工件表面微缺陷检测方案
抛光金属、电镀件、镜面塑胶、镀膜工件表面的划痕、麻点、发丝级磕碰缺陷检测一直是视觉项目难点,普通光源容易形成大面积镜面反光掩盖缺陷。CCS 晰写速 LA 低角度系列光源,采用极低角度漫射出光设计,专门针对高反光工件微缺陷开发,北崎国际日本原厂一手渠道供货。
北崎代理 CCS晰写速 画像光源
LA 系列光源内部配置漫射匀光结构,光线以极小的夹角掠过工件表面,平整镜面区域光线被反射离开相机镜头,图像呈现暗背景;划痕、凹坑、凸起位置发生漫反射,光线进入相机,缺陷位置形成高亮信号,实现暗场成像效果。可以把微米级别细微表面损伤转化为清晰图像差异,极大降低算法识别难度。
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光源外壳散热设计优异,长时间量产运行亮度衰减缓慢。拥有多种尺寸规格,适配不同大小工件,支持红、白、蓝等多种发光波段。可搭配 CCS 数字控制器,支持频闪触发,适配高速流水线检测。光源结构紧凑,方便集成到各类非标视觉设备内部。
多用于电镀五金件外观检测、抛光铝件划痕筛查、镀膜玻璃表面缺陷检查、手机外壳微小磕碰识别、精密轴承零部件表面质检等场景。在高反光材质微缺陷检测项目中,低角度暗场光源是非常高效的照明解决方案。北崎国际可提供原厂样例成像参考,协助评估工件反光特性,匹配光源尺寸与波段。
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